۱. تعریف آینهٔ دیالکتریک (Dielectric Mirror / Bragg Mirror)
آینهٔ دیالکتریک یک ساختار چندلایه از فیلمهای نازک شفاف است که معمولاً از دو ماده با ضرایب شکست
nH (بالا) و nL (پایین) روی یک زیرلایه (مثلاً شیشه یا کریستال فعال)
لایهنشانی میشود. اگر ضخامت اپتیکی هر لایه بهصورت n d = λ₀/4 تنظیم شود، بازتاب از تمام مرزها
در طولموج طراحی λ₀ تقریباً همفاز شده و تداخل سازنده ایجاد میکند؛ در نتیجه بازتاب نزدیک به ۱ (۹۹٫۹٪ و بالاتر) به دست میآید.
۲. شرط Quarter-wave و طراحی ساختار (H L)N
برای یک آینهٔ متناوب کلاسیک، ساختار بهصورت (H L)N بین محیط ورودی (nin) و زیرلایه (nsub)
در نظر گرفته میشود. در طولموج طراحی λ₀ داریم:
- ضخامت لایهٔ H:
dH = λ₀ / (4 nH)
- ضخامت لایهٔ L:
dL = λ₀ / (4 nL)
- تعداد جفتها N، اندازهٔ بازتاب و پهنای Stop-band را کنترل میکند.
بهطور تقریبی، پهنای نسبی Stop-band برای یک DBR کلاسیک از رابطهٔ زیر به دست میآید:
Δλ / λ₀ ≈ (4 / π) · arcsin((nH − nL) / (nH + nL))
یعنی هرچه اختلاف ضریب شکست بیشتر باشد، Stop-band پهنتر است.
۳. روش ماتریس انتقال (Transfer Matrix Method – TMM)
در این سایت و در کدهای پایتون، برای محاسبهٔ بازتاب R(λ) از روش ماتریس انتقال در تابش عمود استفاده شده است.
برای هر لایه با ضریب شکست n و ضخامت d در طولموج λ، ماتریس تکلایه به صورت:
M = [[cos β, (i sin β) / n],
[i n sin β, cos β]]
β = (2π/λ) · n · d
کل ساختار از ضرب زنجیرهای این ماتریسها تشکیل میشود. سپس با در نظر گرفتن محیط ورودی و زیرلایه،
ضریب بازتاب پیچیده r و در نهایت R = |r|² محاسبه میشود. این همان چیزی است که در نمودار R(λ) میبینی
و تمام محاسبات همخوان با منابع استاندارد لایهنشانی اپتیکی است.
۴. Chirped DBR (آینهٔ پهنباند و کنترل Dispersion)
در Chirped DBR، ضخامت لایهها ثابت نیست؛ بلکه برای هر جفت (H,L) یک طولموج طراحی محلی λ₀,i در نظر گرفته میشود
و ضخامتها بر اساس همان λ₀,i محاسبه میشوند. در نتیجه:
- Stop-band در بازهی بزرگتری از طولموج گسترده میشود (آینهٔ پهنباند).
- فاز بازتابی و Dispersion (بهویژه Group Delay Dispersion) قابل شکلدهی است.
- در لیزرهای فوقکوتاهپالس (Femtosecond) برای جبران Dispersion کاواک استفاده میشود.
۵. آینهٔ حفرهای (Cavity Mirror / Resonant Mirror)
اگر بین دو DBR مشابه، یک لایه با ضریب شکست nc و ضخامت تقریباً
dc ≈ λ₀ / (2 nc) قرار دهیم، یک حفرهٔ Fabry–Perot در دل DBR ساختهایم.
ترکیب تداخل قوی DBRها و رزونانس حفره، نموداری شبیه فیلتر Bandpass ایجاد میکند (یک قله یا فرورفتگی باریک در R).
این ساختار برای:
- فیلتر کردن طولموج خاص در لیزر،
- انتخاب مد طولموجی،
- و ساخت آینههای با پاسخ طیفی بسیار دقیق
بهکار میرود. در شبیهسازی سایت، ضخامت حفره با یک فاکتور قابل تنظیم ضرب در λ₀/(2nc) تنظیم شده است.
۶. ملاحظات لیزر توان بالا
در لیزرهای توان بالا، علاوه بر بازتاب و پهنای طیفی، نکات زیر مهماند:
- اتلاف جذب بسیار کم در مواد (برای جلوگیری از گرمشدن و تخریب حرارتی).
- آستانهٔ تخریب بالا (Laser-Induced Damage Threshold – LIDT).
- حساسیت به زاویه و قطبش (پاسخ آینه برای s و p و برای زاویههای غیرعمود تفاوت دارد).
- کیفیت سطح، زبری، و یکنواختی ضخامت در کل دهانهٔ آینه.
۷. محدودیتهای مدل عددی این پروژه
در تمام شبیهسازیهای این صفحه:
- تابش بهصورت عمود فرض شده است (زاویهٔ تابش = ۰ درجه).
- مواد فاقد جذب در نظر گرفته شدهاند (ضریب شکست صرفاً حقیقی است).
- اثر قطبش (s/p) مدل نشده و پاسخ برای هر دو مشابه فرض شده است.
بنابراین این مدل برای تحلیل تئوری و آموزشی عالی است؛ اما در طراحی صنعتی و واقعی، باید مدل بهصورت
زاویهدار، با ضریب شکست مختلط (n + iκ) و تفکیک قطبشها توسعه داده شود تا بتوان مشخصات آینه را مطابق استانداردهای صنعتی نهایی کرد.